Инспекционный микроскоп Leica DM3 XL
Цену уточняйте
- Под заказ
Отправка с 10 июня 2025Микроскоп Leica DM3 XL – модель, для проведения контроля качества микроэлектроники, обеспечивающая возможность анализа кремниевых пластин.
Инспекционный микроскоп DM3 XL оснащается датчиком контроля освещенности, срабатывающим при смене режима работы, и обеспечивает поле зрения в 37,5 мм. Это простой и надежный инструмент для быстрого инспектирования полупроводниковых образцов, купить который по выгодным ценам можно в нашей компании.
Наличие осветительной лампы на светодиодах позволяет равномерно распределить подаваемое освещение, сохраняя цветовую температуру. Световая система позволяет использовать режим отраженного и проходящего света, используемого в измерениях двойного лучепреломления. Комбинируя осветительные режимы, можно добиться оптимальных результатов.
Оснащенный мотором столик для сканирования обладает большим ходовым диапазоном, и позволяет размещать образцы, диаметр которых доходит до 150 мм. Для более точного анализа топографии материала используется режим подачи освещения под углом.
Характеристики оптической системы, которой оснащен микроскоп, позволяют увеличивать изображение в масштабах х7-х1500. Апертурная диафрагма с цветным кодированием обеспечивает простоту подбора оптимальных настроек для используемого объектива. Широкий выбор методов контрастирования гарантирует возможность проведения точечного исследования и получения достоверных результатов.
| Основные | |
|---|---|
| Производитель | Leica |
| Характеристики микроскопа | |
| Ход предметного столика по XY | 150х150 мм |
| Ход фокусировки по Z | 25 мм |
| Источники освещения | Светодиодный белый |
| Увеличение | от 7 крат до 3000 крат |
| Режимы освещения | отраженный и проходящий свет |
| Методы контрастирования | светлое поле, темное поле, поляризация, дифференциально-интерференционный контраст, косое освещение |
- Цена: Цену уточняйте